第四期丨通用測試相控陣天線測試系統(tǒng)有何特別之處？
相控陣天線測試系統(tǒng)主要是用來對天線、衛(wèi)星、雷達、雷達罩等設(shè)備的性能進行測試與評估。不管測試系統(tǒng)是遠場、緊縮場、近場還是現(xiàn)在 OTA 測試中的小暗箱系統(tǒng)，所有系統(tǒng)中都存在轉(zhuǎn)臺、掃描架、被測件、饋源與自動測試軟件幾大部分。
為了提高測試效率，測試工程師希望能夠在不降低測試精度的情況下，優(yōu)化提高系統(tǒng)測試速度，以便對復雜天線輻射性能進行高效測試。隨著技術(shù)的進步出現(xiàn)了新的測試技術(shù)與測試設(shè)備，合理利用這些技術(shù)與設(shè)備可以大大提高測試系統(tǒng)的測試效率、降低測試成本、縮短測試時間，從而提高產(chǎn)品競爭力，縮短產(chǎn)品上市時間。
01 另辟新徑的系統(tǒng)架構(gòu)
相較于傳統(tǒng)測試系統(tǒng)，通用測試的相控陣天線測試系統(tǒng)采用多項核心技術(shù)：
- 高性能饋源具有相位穩(wěn)定，具有低交叉極化和低散射等特點。
- EPP 吸波材料具有不吸水，不吸潮，長期使用性能穩(wěn)定，對系統(tǒng)背景噪聲電平影響小等特點。
- 被測件裝夾子系統(tǒng)采用桁吊和特殊設(shè)計的夾具，單人操作也能完成被測件的裝卸，被測件產(chǎn)品安裝時間短，可靠性高。
- 微秒級實時控制系統(tǒng)實現(xiàn)雷達天線波控，測試儀器和開關(guān)矩陣同步觸發(fā)控制，可以極大提高測試效率，實現(xiàn)多波位、多頻點和多通道同步高速采樣流程。
- 球面近場掃描技術(shù)在被測件結(jié)構(gòu)細節(jié)未知情況下，基于電磁感應，實現(xiàn)對被測件近場快速測量，對于超大陣列和多波位狀態(tài)測量，效果尤為明顯。
02 一站式多波位快速測試
相控陣天線測試系統(tǒng)的毫米波頻段大部分為50cm以下的中小型相控陣，由于有源相控陣通常有多個測試通道和波束指向狀態(tài)。采用普通的測量系統(tǒng)，需要對每一個天線狀態(tài)分別進行測試，測試效率低。在面向中小型相控陣天線時，通過通道切換和被測件波位控制，可以在一次掃描測試中，完成多個測試通道及多個波位狀態(tài)的測試，提高測試效率數(shù)倍。
測試系統(tǒng)覆蓋相控陣天線的大部分測試場景，實現(xiàn)一站式測試。除了基本的近遠場方向圖測試，還具有相位中心測試功能，集成的后處理算法可利用方向圖結(jié)果進行計算，無需進行額外的相位中心測試。
03 自主研發(fā) 安全可靠
通用測試自成立以來一直秉承“專注無線測試 面向萬物互聯(lián)“發(fā)展理念，在無線性能測試的道路上從未止步。相控陣天線測試系統(tǒng)集成通用測試多項自主專利技術(shù)，取代了傳統(tǒng)掃描架設(shè)備，實現(xiàn)天線近場、遠場、近遠場測量，突破了平臺自動化校準、高精度定位實時交互、可容錯數(shù)據(jù)分析、多任務采集測量以及快速數(shù)據(jù)精確處理算法等技術(shù)。實際應用表明，該系統(tǒng)運行穩(wěn)定，可靠性高，能夠滿足實際工程需求，且響應速度快，大大提高了測試效率。